光譜儀-智博通科技有限公司-落地式火花直讀光譜儀
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島津全譜直讀型ICP發射光譜儀 icpe-9000
全譜直讀型ICP發射光譜儀ICP發射光譜儀作為一個分析儀器應用范圍很廣。它的特點是具有ppb級別的檢測能力，5-6個數量級的檢測濃度范圍，并且可以批量處理多種元素。隨著ICP的廣泛使用，光電直讀光譜儀，人們對縮短分析時間和改善復雜基體樣品檢測能力的需求日益增加。為此，我們開發了兩種類型的產品，使用半導體檢測器的全譜直讀型以縮短分析時間，和高分辨順序掃描型產品改善檢出限。
德國斯派克落地式火花直讀光譜分析儀SPECTROLAB M12
高l端直讀光譜儀全譜技術創新
1.快速讀出系統：這一全新設計的部件提供高速，更高靈活性數據傳送功能。為SPECTRLAB的分析性能奠定基礎。用戶可以篩選“僅需要的”檢測器單元讀出信號，直讀光譜儀，以達到很快的測量速度。對于科研和未知材料分析。讀出系統提供全波長范圍譜線掃描圖。PMT光電倍增管檢測器系統的單火花測算（SSE）技術實現了以前沒有的夾物分析精度。為鋼鐵質量精l'確測定提供有效的應用支持。
2.氣供給系統：新的全CCD光學系統的火花臺氣流向設計顯著提高了氣流清理金屬粉塵的能力，確保達成激發條件。同時SPECTRLAB的全新火花臺設計降低了氣的消耗量。也使氣分配模塊位置更加優化。只有一根銅管連接火花臺和氣路單元，降低氣路漏氣的可能性。
德國斯派克落地式火花直讀光譜分析儀SPECTROLAB M12
建立光學系統技術新標準
2007年SPECTROLAB創造了先鋒技術“混合動力”PMT/CCD雙檢測器光學系統，光譜儀，為高l端直讀光譜儀光學技術樹立了新的里程碑。自從斯派克公司從未間斷提升兩種技術至新的境界。
兩種創造性的光學系統技術
無論第三代“混合動力”雙檢測器光學系統還是全CCD光學系統都創造性地為金屬工業提供了杰出的光學分析性能。雙檢測器光學系統無懈可擊地滿足了個性化科研實驗室對靈活性，穩定性和精度的嚴格要求。使其尤其適于檢測新材料，痕量分析，夾雜物，高純金屬。全CCD光學系統兼具驚人的重要性，穩定性和快速分析。便捷的ICAL智能標準化大大縮短儀器校正時間。這些性能恰恰是爐前過程控制或進出廠原材料質量檢驗需要的。不僅于此，SPECTROLAB專利的測定球墨鑄鐵中的碳元素含量技術逐步取代了紅外碳硫分析儀。美國專利證書編號：8，976，350，B2
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